Comprimento de Onda na Difração de Raios-X Calculadora

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✖Espaçamento Interplanar é a distância entre dois planos adjacentes em uma estrutura de rede cristalina, que é um parâmetro crítico na compreensão das propriedades e comportamento do material.ⓘ Espaçamento Interplanar [d]			+10% -10%
✖Ângulo b/w Incidente e Raio X Refletido é o ângulo entre o feixe de raios X incidente e o feixe de raios X refletido, o que é crucial para a compreensão da interação entre os raios X e os materiais.ⓘ Ângulo b/w Incidente e Raio-X Refletido [θ]			+10% -10%
✖Ordem de Reflexão é o número de vezes que um fóton é refletido por uma superfície, o que afeta a intensidade e direção do feixe resultante.ⓘ Ordem de Reflexão [n_order]			+10% -10%

✖O comprimento de onda dos raios X é a distância entre dois picos ou vales consecutivos de uma onda de luz que é característica dos fótons de raios X.ⓘ Comprimento de Onda na Difração de Raios-X [λ_x-ray]

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Comprimento de Onda na Difração de Raios-X Solução

ETAPA 0: Resumo de pré-cálculo

Fórmula Usada

Comprimento de onda do raio X = (2*Espaçamento Interplanar*sin(Ângulo b/w Incidente e Raio-X Refletido))/Ordem de Reflexão
λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order
Esta fórmula usa 1 Funções, 4 Variáveis

Funções usadas

sin - Seno é uma função trigonométrica que descreve a razão entre o comprimento do lado oposto de um triângulo retângulo e o comprimento da hipotenusa., sin(Angle)

Variáveis Usadas

Comprimento de onda do raio X - (Medido em Metro) - O comprimento de onda dos raios X é a distância entre dois picos ou vales consecutivos de uma onda de luz que é característica dos fótons de raios X.
Espaçamento Interplanar - (Medido em Metro) - Espaçamento Interplanar é a distância entre dois planos adjacentes em uma estrutura de rede cristalina, que é um parâmetro crítico na compreensão das propriedades e comportamento do material.
Ângulo b/w Incidente e Raio-X Refletido - (Medido em Radiano) - Ângulo b/w Incidente e Raio X Refletido é o ângulo entre o feixe de raios X incidente e o feixe de raios X refletido, o que é crucial para a compreensão da interação entre os raios X e os materiais.
Ordem de Reflexão - Ordem de Reflexão é o número de vezes que um fóton é refletido por uma superfície, o que afeta a intensidade e direção do feixe resultante.

ETAPA 1: Converter entrada (s) em unidade de base

Espaçamento Interplanar: 0.7 Nanômetro --> 7E-10 Metro (Verifique a conversão aqui)
Ângulo b/w Incidente e Raio-X Refletido: 40 Grau --> 0.698131700797601 Radiano (Verifique a conversão aqui)
Ordem de Reflexão: 2 --> Nenhuma conversão necessária

ETAPA 2: Avalie a Fórmula

Substituindo valores de entrada na fórmula

λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order --> (2*7E-10*sin(0.698131700797601))/2

Avaliando ... ...

λ_x-ray = 4.49951326780507E-10

PASSO 3: Converta o Resultado em Unidade de Saída

4.49951326780507E-10 Metro -->0.449951326780507 Nanômetro (Verifique a conversão aqui)

RESPOSTA FINAL

0.449951326780507 ≈ 0.449951 Nanômetro <-- Comprimento de onda do raio X

(Cálculo concluído em 00.004 segundos)

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Créditos

Criado por Anshika Arya

Instituto Nacional de Tecnologia (NIT), Hamirpur

Anshika Arya criou esta calculadora e mais 2000+ calculadoras!

Verificado por Rushi Shah

KJ Somaiya College of Engineering (KJ Somaiya), Mumbai

Rushi Shah verificou esta calculadora e mais 200+ calculadoras!

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Quantização do Momento Angular

LaTeX Vai Quantização do Momento Angular = (Número quântico*Constante de Planck)/(2*pi)

Energia na órbita de Nth Bohr

LaTeX Vai Energia na enésima unidade de Bohr = -(13.6*(Número atômico^2))/(Número de nível em órbita^2)

Energia de fóton em transição de estado

LaTeX Vai Energia de fótons em transição de estado = Constante de Planck*Frequência do Fóton

Raio da órbita de Nth Bohr

LaTeX Vai Raio da enésima órbita = (Número quântico^2*0.529*10^(-10))/Número atômico

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Comprimento de Onda na Difração de Raios-X Fórmula

LaTeX Vai

Comprimento de onda do raio X = (2*Espaçamento Interplanar*sin(Ângulo b/w Incidente e Raio-X Refletido))/Ordem de Reflexão
λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order

O que é difração de raios X?

A difração de raios X é uma técnica usada para estudar a estrutura de materiais cristalinos direcionando os raios X para uma amostra. Quando os raios X interagem com a rede cristalina, eles são espalhados em direções específicas, produzindo um padrão de difração. Esse padrão fornece informações sobre o arranjo dos átomos dentro do cristal, permitindo aos pesquisadores determinar a estrutura do material, identificar fases e analisar configurações moleculares. A difração de raios X é amplamente utilizada em ciência de materiais, química e biologia.

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