Concentração de Defeito Schottky Solução

ETAPA 0: Resumo de pré-cálculo
Fórmula Usada
Número de defeitos de Schottky = Número de sítios atômicos*exp(-Energia de ativação para a formação Schottky/(2*Constante de gás universal*Temperatura))
NS = N*exp(-Qs/(2*R*T))
Esta fórmula usa 1 Funções, 5 Variáveis
Funções usadas
exp - Em uma função exponencial, o valor da função muda por um fator constante para cada mudança unitária na variável independente., exp(Number)
Variáveis Usadas
Número de defeitos de Schottky - O número de defeitos de Schottky representa o número de equilíbrio de defeitos de Schottky por metro cúbico.
Número de sítios atômicos - Número de sítios atômicos por metro cúbico.
Energia de ativação para a formação Schottky - (Medido em Joule) - A energia de ativação para a formação de Schottky representa a energia necessária para a formação do defeito de Schottky.
Constante de gás universal - A constante universal de gás é uma constante física que aparece em uma equação que define o comportamento de um gás em condições teoricamente ideais. Sua unidade é joule * kelvin − 1 * mole − 1.
Temperatura - (Medido em Kelvin) - Temperatura é o grau ou intensidade de calor presente em uma substância ou objeto.
ETAPA 1: Converter entrada (s) em unidade de base
Número de sítios atômicos: 8E+28 --> Nenhuma conversão necessária
Energia de ativação para a formação Schottky: 2.6 Electron-Volt --> 4.16566105800002E-19 Joule (Verifique a conversão ​aqui)
Constante de gás universal: 8.314 --> Nenhuma conversão necessária
Temperatura: 85 Kelvin --> 85 Kelvin Nenhuma conversão necessária
ETAPA 2: Avalie a Fórmula
Substituindo valores de entrada na fórmula
NS = N*exp(-Qs/(2*R*T)) --> 8E+28*exp(-4.16566105800002E-19/(2*8.314*85))
Avaliando ... ...
NS = 8E+28
PASSO 3: Converta o Resultado em Unidade de Saída
8E+28 --> Nenhuma conversão necessária
RESPOSTA FINAL
8E+28 <-- Número de defeitos de Schottky
(Cálculo concluído em 00.004 segundos)

Créditos

Creator Image
Criado por Equipe Softusvista
Escritório Softusvista (Pune), Índia
Equipe Softusvista criou esta calculadora e mais 600+ calculadoras!
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Verificado por Himanshi Sharma
Instituto de Tecnologia Bhilai (MORDEU), Raipur
Himanshi Sharma verificou esta calculadora e mais 800+ calculadoras!

Cerâmica e Compósitos Calculadoras

Módulo de material poroso de Young
​ Vai Módulo de material poroso de Young = Módulo de Young de material não poroso*(1-(0.019*Porcentagem de Volume de Porosidade)+(0.00009*Porcentagem de Volume de Porosidade*Porcentagem de Volume de Porosidade))
Concentração de Defeito Schottky
​ Vai Número de defeitos de Schottky = Número de sítios atômicos*exp(-Energia de ativação para a formação Schottky/(2*Constante de gás universal*Temperatura))
Comprimento Crítico da Fibra
​ Vai Comprimento Crítico da Fibra = Resistência à tração da fibra*Diâmetro da fibra/(2*Tensão crítica de cisalhamento)
Módulo de Young do módulo de cisalhamento
​ Vai Módulo de Young = 2*Módulo de cisalhamento*(1+Razão de Poisson)

Concentração de Defeito Schottky Fórmula

Número de defeitos de Schottky = Número de sítios atômicos*exp(-Energia de ativação para a formação Schottky/(2*Constante de gás universal*Temperatura))
NS = N*exp(-Qs/(2*R*T))

Defeitos Schottky

Os defeitos de Schottky podem ser considerados como sendo criados pela remoção de um cátion e um ânion do interior do cristal e, em seguida, colocando-os em uma superfície externa. Uma vez que cátions e ânions têm a mesma carga, e como para cada vaga de ânion existe uma vaga de cátion, a neutralidade de carga do cristal é mantida.

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