NWW dwóch liczby

Głębia ostrości Kalkulator

Inżynieria Budżetowy Chemia Fizyka Więcej >>

↳

Elektronika Cywilny Elektronika i oprzyrządowanie Elektryczny Więcej >>

⤿

Układy scalone (IC)Antena i propagacja fal Cyfrowe przetwarzanie obrazu EDC Więcej >>

⤿

Produkcja układów scalonych MOS Produkcja bipolarnych układów scalonych Wyzwalacz Schmitta

✖Współczynnik proporcjonalności to stała, która wiąże dwa kluczowe parametry: wymiar krytyczny (CD) i dawkę ekspozycji.ⓘ Czynnik proporcjonalności [k₂]			+10% -10%
✖Długość fali w fotolitografii odnosi się do określonego zakresu promieniowania elektromagnetycznego wykorzystywanego do modelowania płytek półprzewodnikowych podczas procesu wytwarzania półprzewodników.ⓘ Długość fali w fotolitografii [λ_l]			+10% -10%
✖Apertura numeryczna układu optycznego to parametr używany w optyce do opisu zdolności układu optycznego. W kontekście produkcji półprzewodników i fotolitografii.ⓘ Przysłona numeryczna [NA]			+10% -10%

✖Głębia ostrości jest krytycznym parametrem wpływającym na tolerancję na zmiany wysokości płytki półprzewodnikowej.ⓘ Głębia ostrości [DOF]

⎘ Kopiuj

👎

Formuła

✖

Głębia ostrości

Formuła

DOF = k 2 \cdot \frac{λ l}{{NA}^{2}}

Przykład

1.301331 μm = 3 \cdot \frac{223 nm}{{0.717}^{2}}

Kalkulator

LaTeX

Resetowanie

👍

Pobierać Produkcja układów scalonych MOS Formuły PDF PDF Image

Głębia ostrości Rozwiązanie

KROK 0: Podsumowanie wstępnych obliczeń

Formułę używana

Głębia ostrości = Czynnik proporcjonalności*Długość fali w fotolitografii/(Przysłona numeryczna^2)
DOF = k₂*λ_l/(NA^2)
Ta formuła używa 4 Zmienne

Używane zmienne

Głębia ostrości - (Mierzone w Metr) - Głębia ostrości jest krytycznym parametrem wpływającym na tolerancję na zmiany wysokości płytki półprzewodnikowej.
Czynnik proporcjonalności - Współczynnik proporcjonalności to stała, która wiąże dwa kluczowe parametry: wymiar krytyczny (CD) i dawkę ekspozycji.
Długość fali w fotolitografii - (Mierzone w Metr) - Długość fali w fotolitografii odnosi się do określonego zakresu promieniowania elektromagnetycznego wykorzystywanego do modelowania płytek półprzewodnikowych podczas procesu wytwarzania półprzewodników.
Przysłona numeryczna - Apertura numeryczna układu optycznego to parametr używany w optyce do opisu zdolności układu optycznego. W kontekście produkcji półprzewodników i fotolitografii.

KROK 1: Zamień wejście (a) na jednostkę bazową

Czynnik proporcjonalności: 3 --> Nie jest wymagana konwersja
Długość fali w fotolitografii: 223 Nanometr --> 2.23E-07 Metr (Sprawdź konwersję tutaj)
Przysłona numeryczna: 0.717 --> Nie jest wymagana konwersja

KROK 2: Oceń formułę

Zastępowanie wartości wejściowych we wzorze

DOF = k₂*λ_l/(NA^2) --> 3*2.23E-07/(0.717^2)

Ocenianie ... ...

DOF = 1.30133109247621E-06

KROK 3: Konwertuj wynik na jednostkę wyjścia

1.30133109247621E-06 Metr -->1.30133109247621 Mikrometr (Sprawdź konwersję tutaj)

OSTATNIA ODPOWIEDŹ

1.30133109247621 ≈ 1.301331 Mikrometr <-- Głębia ostrości

(Obliczenie zakończone za 00.004 sekund)

Jesteś tutaj -

Dom » Inżynieria » Elektronika » Układy scalone (IC) » Produkcja układów scalonych MOS » Głębia ostrości

Kredyty

Stworzone przez banuprakasz

Szkoła Inżynierska Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore

banuprakasz utworzył ten kalkulator i 50+ więcej kalkulatorów!

Zweryfikowane przez Santhosh Yadav

Szkoła Inżynierska Dayananda Sagar (DSCE), Banglore

Santhosh Yadav zweryfikował ten kalkulator i 50+ więcej kalkulatorów!

< Produkcja układów scalonych MOS Kalkulatory

Efekt ciała w MOSFET-ie

Iść Napięcie progowe z podłożem = Napięcie progowe przy zerowym odchyleniu ciała+Parametr efektu ciała*(sqrt(2*Masowy potencjał Fermiego+Napięcie przyłożone do korpusu)-sqrt(2*Masowy potencjał Fermiego))

Prąd drenu MOSFET-u w obszarze nasycenia

Iść Prąd spustowy = Parametr transkonduktancji/2*(Napięcie źródła bramki-Napięcie progowe przy zerowym odchyleniu ciała)^2*(1+Współczynnik modulacji długości kanału*Napięcie źródła drenu)

Rezystancja kanału

Iść Rezystancja kanału = Długość tranzystora/Szerokość tranzystora*1/(Mobilność elektronów*Gęstość nośnika)

Częstotliwość wzmocnienia jedności MOSFET

Iść Częstotliwość wzmocnienia jedności w MOSFET-ie = Transkonduktancja w MOSFET-ie/(Pojemność źródła bramki+Pojemność drenu bramki)

Zobacz więcej >>