PN-verbindingsdepletiediepte met afvoer VLSI Oplossing

STAP 0: Samenvatting voorberekening
Formule gebruikt
Pn-verbindingsdepletiediepte met afvoer = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*Acceptorconcentratie))*(Junction Ingebouwde spanning+Afvoer naar bronpotentieel))
xdD = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*NA))*(Ø0+Vds))
Deze formule gebruikt 3 Constanten, 1 Functies, 4 Variabelen
Gebruikte constanten
[Permitivity-silicon] - Permittiviteit van silicium Waarde genomen als 11.7
[Permitivity-vacuum] - Permittiviteit van vacuüm Waarde genomen als 8.85E-12
[Charge-e] - Lading van elektron Waarde genomen als 1.60217662E-19
Functies die worden gebruikt
sqrt - Een vierkantswortelfunctie is een functie die een niet-negatief getal als invoer neemt en de vierkantswortel van het opgegeven invoergetal retourneert., sqrt(Number)
Variabelen gebruikt
Pn-verbindingsdepletiediepte met afvoer - (Gemeten in Meter) - Pn-verbindingsdepletiediepte met drain wordt gedefinieerd als de uitbreiding van het depletiegebied in het halfgeleidermateriaal nabij de drainterminal.
Acceptorconcentratie - (Gemeten in 1 per kubieke meter) - Acceptorconcentratie verwijst naar de concentratie van acceptor-doteringsatomen in een halfgeleidermateriaal.
Junction Ingebouwde spanning - (Gemeten in Volt) - De ingebouwde junctiespanning wordt gedefinieerd als de spanning die bestaat over een halfgeleiderjunctie in thermisch evenwicht, waarbij geen externe spanning wordt toegepast.
Afvoer naar bronpotentieel - (Gemeten in Volt) - Afvoer naar bron Potentieel is het potentieel tussen afvoer en bron.
STAP 1: converteer ingang (en) naar basiseenheid
Acceptorconcentratie: 1E+16 1 per kubieke centimeter --> 1E+22 1 per kubieke meter (Bekijk de conversie ​hier)
Junction Ingebouwde spanning: 0.76 Volt --> 0.76 Volt Geen conversie vereist
Afvoer naar bronpotentieel: 1.45 Volt --> 1.45 Volt Geen conversie vereist
STAP 2: Evalueer de formule
Invoerwaarden in formule vervangen
xdD = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*NA))*(Ø0+Vds)) --> sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*1E+22))*(0.76+1.45))
Evalueren ... ...
xdD = 5.34466520692296E-07
STAP 3: converteer het resultaat naar de eenheid van de uitvoer
5.34466520692296E-07 Meter -->0.534466520692296 Micrometer (Bekijk de conversie ​hier)
DEFINITIEVE ANTWOORD
0.534466520692296 0.534467 Micrometer <-- Pn-verbindingsdepletiediepte met afvoer
(Berekening voltooid in 00.008 seconden)

Credits

Creator Image
Gemaakt door Prijanka Patel
Lalbhai Dalpatbhai College voor techniek (LDCE), Ahmedabad
Prijanka Patel heeft deze rekenmachine gemaakt en nog 25+ meer rekenmachines!
Verifier Image
Geverifieërd door Santhosh Yadav
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Banglore
Santhosh Yadav heeft deze rekenmachine geverifieerd en nog 50+ rekenmachines!

VLSI-materiaaloptimalisatie Rekenmachines

Lichaamseffectcoëfficiënt
​ LaTeX ​ Gaan Lichaamseffectcoëfficiënt = modulus((Drempelspanning-Drempelspanning DIBL)/(sqrt(Oppervlaktepotentieel+(Bron Lichaamspotentieelverschil))-sqrt(Oppervlaktepotentieel)))
DIBL-coëfficiënt
​ LaTeX ​ Gaan DIBL-coëfficiënt = (Drempelspanning DIBL-Drempelspanning)/Afvoer naar bronpotentieel
Kanaallading
​ LaTeX ​ Gaan Kanaalkosten = Poortcapaciteit*(Poort naar kanaalspanning-Drempelspanning)
Kritieke spanning
​ LaTeX ​ Gaan Kritische spanning = Kritisch elektrisch veld*Elektrisch veld over de kanaallengte

PN-verbindingsdepletiediepte met afvoer VLSI Formule

​LaTeX ​Gaan
Pn-verbindingsdepletiediepte met afvoer = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*Acceptorconcentratie))*(Junction Ingebouwde spanning+Afvoer naar bronpotentieel))
xdD = sqrt(((2*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum])/([Charge-e]*NA))*(Ø0+Vds))
Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!