Bulkuitputtingsregio Ladingsdichtheid VLSI Oplossing

STAP 0: Samenvatting voorberekening
Formule gebruikt
Ladingsdichtheid van het bulkuitputtingsgebied = -(1-((Laterale omvang van het uitputtingsgebied met bron+Laterale omvang van het uitputtingsgebied met afvoer)/(2*Kanaallengte)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Acceptorconcentratie*abs(2*Oppervlaktepotentieel))
QB0 = -(1-((ΔLs+ΔLD)/(2*L)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*NA*abs(2*Φs))
Deze formule gebruikt 3 Constanten, 2 Functies, 6 Variabelen
Gebruikte constanten
[Permitivity-silicon] - Permittiviteit van silicium Waarde genomen als 11.7
[Permitivity-vacuum] - Permittiviteit van vacuüm Waarde genomen als 8.85E-12
[Charge-e] - Lading van elektron Waarde genomen als 1.60217662E-19
Functies die worden gebruikt
sqrt - Een vierkantswortelfunctie is een functie die een niet-negatief getal als invoer neemt en de vierkantswortel van het opgegeven invoergetal retourneert., sqrt(Number)
abs - De absolute waarde van een getal is de afstand tot nul op de getallenlijn. Het is altijd een positieve waarde, omdat het de grootte van een getal vertegenwoordigt zonder rekening te houden met de richting., abs(Number)
Variabelen gebruikt
Ladingsdichtheid van het bulkuitputtingsgebied - (Gemeten in Coulomb per vierkante meter) - De ladingsdichtheid van het bulkuitputtingsgebied wordt gedefinieerd als de elektrische lading per oppervlakte-eenheid geassocieerd met het uitputtingsgebied in de bulk van een halfgeleiderapparaat.
Laterale omvang van het uitputtingsgebied met bron - (Gemeten in Meter) - Laterale omvang van uitputtingsgebied met bron de horizontale afstand waarover het uitputtingsgebied zich zijdelings uitstrekt vanaf de bronterminal in een halfgeleiderapparaat.
Laterale omvang van het uitputtingsgebied met afvoer - (Gemeten in Meter) - Laterale omvang van uitputtingsgebied met afvoer de horizontale afstand waarover het uitputtingsgebied zich zijdelings uitstrekt vanaf de afvoeraansluiting in een halfgeleiderapparaat.
Kanaallengte - (Gemeten in Meter) - Kanaallengte verwijst naar de fysieke lengte van het halfgeleidermateriaal tussen de source- en drain-terminals binnen de transistorstructuur.
Acceptorconcentratie - (Gemeten in 1 per kubieke meter) - Acceptorconcentratie verwijst naar de concentratie van acceptor-doteringsatomen in een halfgeleidermateriaal.
Oppervlaktepotentieel - (Gemeten in Volt) - Oppervlaktepotentieel is een sleutelparameter bij het evalueren van de DC-eigenschap van dunnefilmtransistors.
STAP 1: converteer ingang (en) naar basiseenheid
Laterale omvang van het uitputtingsgebied met bron: 0.1 Micrometer --> 1E-07 Meter (Bekijk de conversie ​hier)
Laterale omvang van het uitputtingsgebied met afvoer: 0.2 Micrometer --> 2E-07 Meter (Bekijk de conversie ​hier)
Kanaallengte: 2.5 Micrometer --> 2.5E-06 Meter (Bekijk de conversie ​hier)
Acceptorconcentratie: 1E+16 1 per kubieke centimeter --> 1E+22 1 per kubieke meter (Bekijk de conversie ​hier)
Oppervlaktepotentieel: 6.86 Volt --> 6.86 Volt Geen conversie vereist
STAP 2: Evalueer de formule
Invoerwaarden in formule vervangen
QB0 = -(1-((ΔLs+ΔLD)/(2*L)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*NA*abs(2*Φs)) --> -(1-((1E-07+2E-07)/(2*2.5E-06)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*1E+22*abs(2*6.86))
Evalueren ... ...
QB0 = -0.00200557851391776
STAP 3: converteer het resultaat naar de eenheid van de uitvoer
-0.00200557851391776 Coulomb per vierkante meter -->-0.200557851391776 Microcoulomb per vierkante centimeter (Bekijk de conversie ​hier)
DEFINITIEVE ANTWOORD
-0.200557851391776 -0.200558 Microcoulomb per vierkante centimeter <-- Ladingsdichtheid van het bulkuitputtingsgebied
(Berekening voltooid in 00.020 seconden)

Credits

Creator Image
Gemaakt door Prijanka Patel
Lalbhai Dalpatbhai College voor techniek (LDCE), Ahmedabad
Prijanka Patel heeft deze rekenmachine gemaakt en nog 25+ meer rekenmachines!
Verifier Image
Geverifieërd door Santhosh Yadav
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Banglore
Santhosh Yadav heeft deze rekenmachine geverifieerd en nog 50+ rekenmachines!

VLSI-materiaaloptimalisatie Rekenmachines

Lichaamseffectcoëfficiënt
​ LaTeX ​ Gaan Lichaamseffectcoëfficiënt = modulus((Drempelspanning-Drempelspanning DIBL)/(sqrt(Oppervlaktepotentieel+(Bron Lichaamspotentieelverschil))-sqrt(Oppervlaktepotentieel)))
DIBL-coëfficiënt
​ LaTeX ​ Gaan DIBL-coëfficiënt = (Drempelspanning DIBL-Drempelspanning)/Afvoer naar bronpotentieel
Kanaallading
​ LaTeX ​ Gaan Kanaalkosten = Poortcapaciteit*(Poort naar kanaalspanning-Drempelspanning)
Kritieke spanning
​ LaTeX ​ Gaan Kritische spanning = Kritisch elektrisch veld*Elektrisch veld over de kanaallengte

Bulkuitputtingsregio Ladingsdichtheid VLSI Formule

​LaTeX ​Gaan
Ladingsdichtheid van het bulkuitputtingsgebied = -(1-((Laterale omvang van het uitputtingsgebied met bron+Laterale omvang van het uitputtingsgebied met afvoer)/(2*Kanaallengte)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*Acceptorconcentratie*abs(2*Oppervlaktepotentieel))
QB0 = -(1-((ΔLs+ΔLD)/(2*L)))*sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*[Permitivity-vacuum]*NA*abs(2*Φs))
Let Others Know
Facebook
Twitter
Reddit
LinkedIn
Email
WhatsApp
Copied!