Concentratie van acceptordoteringsmiddel Rekenmachine

Engineering Chemie Financieel Fysica Gezondheid Speelplaats Wiskunde

↳

Elektronica Chemische technologie Civiel Elektrisch Elektronica en instrumentatie Materiaal kunde Mechanisch Productie Engineering

⤿

MOS IC-fabricage Bipolaire IC-fabricage Schmitt trigger

✖Transistorlengte verwijst naar de lengte van het kanaalgebied in een MOSFET. Deze dimensie speelt een cruciale rol bij het bepalen van de elektrische kenmerken en prestaties van de transistor.ⓘ Lengte van de transistor [L_t]			+10% -10%
✖Transistorbreedte verwijst naar de breedte van het kanaalgebied in een MOSFET. Deze dimensie speelt een cruciale rol bij het bepalen van de elektrische kenmerken en prestaties van de transistor.ⓘ Transistorbreedte [W_t]			+10% -10%
✖Hole Mobility vertegenwoordigt het vermogen van deze ladingsdragers om te bewegen als reactie op een elektrisch veld.ⓘ Gatenmobiliteit [μ_p]			+10% -10%
✖De capaciteit van de depletielaag per oppervlakte-eenheid is de capaciteit van de depletielaag per oppervlakte-eenheid.ⓘ Capaciteit van de uitputtingslaag [C_dep]			+10% -10%

✖Acceptor Doteringsconcentratie is de mobiliteit van ladingsdragers (in dit geval gaten) en de afmetingen van het halfgeleiderapparaat.ⓘ Concentratie van acceptordoteringsmiddel [N_a]

⎘ Kopiëren

👎

Formule

✖

Concentratie van acceptordoteringsmiddel

Formule

N a = \frac{1}{2 \cdot π \cdot L t \cdot W t \cdot [Charge-e] \cdot μ p \cdot C dep}

Voorbeeld

1E+32 electrons/m³ = \frac{1}{2 \cdot π \cdot 3.2 μm \cdot 5.5 μm \cdot [Charge-e] \cdot 400 m²/V*s \cdot 1.4 μF}

Rekenmachine

LaTeX

Reset

👍

Downloaden MOS IC-fabricage Formules Pdf PDF Image

Concentratie van acceptordoteringsmiddel Oplossing

STAP 0: Samenvatting voorberekening

Formule gebruikt

Concentratie van acceptordoteringsmiddel = 1/(2*pi*Lengte van de transistor*Transistorbreedte*[Charge-e]*Gatenmobiliteit*Capaciteit van de uitputtingslaag)
N_a = 1/(2*pi*L_t*W_t*[Charge-e]*μ_p*C_dep)
Deze formule gebruikt 2 Constanten, 5 Variabelen

Gebruikte constanten

[Charge-e] - Lading van elektron Waarde genomen als 1.60217662E-19
pi - De constante van Archimedes Waarde genomen als 3.14159265358979323846264338327950288

Variabelen gebruikt

Concentratie van acceptordoteringsmiddel - (Gemeten in Elektronen per kubieke meter) - Acceptor Doteringsconcentratie is de mobiliteit van ladingsdragers (in dit geval gaten) en de afmetingen van het halfgeleiderapparaat.
Lengte van de transistor - (Gemeten in Meter) - Transistorlengte verwijst naar de lengte van het kanaalgebied in een MOSFET. Deze dimensie speelt een cruciale rol bij het bepalen van de elektrische kenmerken en prestaties van de transistor.
Transistorbreedte - (Gemeten in Meter) - Transistorbreedte verwijst naar de breedte van het kanaalgebied in een MOSFET. Deze dimensie speelt een cruciale rol bij het bepalen van de elektrische kenmerken en prestaties van de transistor.
Gatenmobiliteit - (Gemeten in Vierkante meter per volt per seconde) - Hole Mobility vertegenwoordigt het vermogen van deze ladingsdragers om te bewegen als reactie op een elektrisch veld.
Capaciteit van de uitputtingslaag - (Gemeten in Farad) - De capaciteit van de depletielaag per oppervlakte-eenheid is de capaciteit van de depletielaag per oppervlakte-eenheid.

STAP 1: converteer ingang (en) naar basiseenheid

Lengte van de transistor: 3.2 Micrometer --> 3.2E-06 Meter (Bekijk de conversie hier)
Transistorbreedte: 5.5 Micrometer --> 5.5E-06 Meter (Bekijk de conversie hier)
Gatenmobiliteit: 400 Vierkante meter per volt per seconde --> 400 Vierkante meter per volt per seconde Geen conversie vereist
Capaciteit van de uitputtingslaag: 1.4 Microfarad --> 1.4E-06 Farad (Bekijk de conversie hier)

STAP 2: Evalueer de formule

Invoerwaarden in formule vervangen

N_a = 1/(2*pi*L_t*W_t*[Charge-e]*μ_p*C_dep) --> 1/(2*pi*3.2E-06*5.5E-06*[Charge-e]*400*1.4E-06)

Evalueren ... ...

N_a = 1.00788050957133E+32

STAP 3: converteer het resultaat naar de eenheid van de uitvoer

1.00788050957133E+32 Elektronen per kubieke meter --> Geen conversie vereist

DEFINITIEVE ANTWOORD

1.00788050957133E+32 ≈ 1E+32 Elektronen per kubieke meter <-- Concentratie van acceptordoteringsmiddel

(Berekening voltooid in 00.004 seconden)

Je bevindt je hier -

Huis » Engineering » Elektronica » Geïntegreerde schakelingen (IC) » MOS IC-fabricage » Concentratie van acceptordoteringsmiddel

Credits

Gemaakt door banuprakash

Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Bangalore

banuprakash heeft deze rekenmachine gemaakt en nog 50+ meer rekenmachines!

Geverifieërd door Santhosh Yadav

Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Banglore

Santhosh Yadav heeft deze rekenmachine geverifieerd en nog 50+ rekenmachines!

< 5 MOS IC-fabricage Rekenmachines

Lichaamseffect in MOSFET

Gaan Drempelspanning met substraat = Drempelspanning zonder lichaamsafwijking+Lichaamseffectparameter*(sqrt(2*Bulk Fermi-potentieel+Spanning toegepast op lichaam)-sqrt(2*Bulk Fermi-potentieel))

Afvoerstroom van MOSFET in het verzadigingsgebied

Gaan Afvoerstroom = Transconductantieparameter/2*(Poortbronspanning-Drempelspanning zonder lichaamsafwijking)^2*(1+Modulatiefactor kanaallengte*Afvoerbronspanning)

Voortplantingstijd

Gaan Voortplantingstijd = 0.7*Aantal doorlaattransistoren*((Aantal doorlaattransistoren+1)/2)*Weerstand in MOSFET*Belastingscapaciteit

Kanaal weerstand

Gaan Kanaal weerstand = Lengte van de transistor/Transistorbreedte*1/(Elektronenmobiliteit*Dragerdichtheid)

MOSFET eenheidsversterkingsfrequentie

Gaan Eenheidsversterkingsfrequentie in MOSFET = Transconductantie in MOSFET/(Gate-broncapaciteit+Poortafvoercapaciteit)