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Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo VLSI calcolatrice

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Ottimizzazione dei materiali VLSI Progettazione VLSI analogica

✖La capacità di ossido per unità di area è definita come la capacità per unità di area dello strato di ossido isolante che separa il gate metallico dal materiale semiconduttore.ⓘ Capacità di ossido per unità di area [C_oxide]			+10% -10%
✖Il fattore di scala è definito come il rapporto con il quale le dimensioni del transistor vengono modificate durante il processo di progettazione.ⓘ Fattore di scala [Sf]			+10% -10%

✖La capacità di ossido dopo il ridimensionamento completo si riferisce alla nuova capacità dopo aver ridotto le dimensioni del MOSFET mediante ridimensionamento completo.ⓘ Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo VLSI [C_oxide']

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Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo VLSI Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo

Formula utilizzata

Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo = Capacità di ossido per unità di area*Fattore di scala
C_oxide' = C_oxide*Sf
Questa formula utilizza 3 Variabili

Variabili utilizzate

Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo - (Misurato in Farad per metro quadrato) - La capacità di ossido dopo il ridimensionamento completo si riferisce alla nuova capacità dopo aver ridotto le dimensioni del MOSFET mediante ridimensionamento completo.
Capacità di ossido per unità di area - (Misurato in Farad per metro quadrato) - La capacità di ossido per unità di area è definita come la capacità per unità di area dello strato di ossido isolante che separa il gate metallico dal materiale semiconduttore.
Fattore di scala - Il fattore di scala è definito come il rapporto con il quale le dimensioni del transistor vengono modificate durante il processo di progettazione.

PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base

Capacità di ossido per unità di area: 0.0703 Microfarad per centimetro quadrato --> 0.000703 Farad per metro quadrato (Controlla la conversione qui)
Fattore di scala: 1.5 --> Nessuna conversione richiesta

FASE 2: valutare la formula

Sostituzione dei valori di input nella formula

C_oxide' = C_oxide*Sf --> 0.000703*1.5

Valutare ... ...

C_oxide' = 0.0010545

PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output

0.0010545 Farad per metro quadrato -->0.10545 Microfarad per centimetro quadrato (Controlla la conversione qui)

RISPOSTA FINALE

0.10545 Microfarad per centimetro quadrato <-- Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo

(Calcolo completato in 00.004 secondi)

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Titoli di coda

Creato da Priyanka Patel

Facoltà di ingegneria Lalbhai Dalpatbhai (LDCE), Ahmedabad

Priyanka Patel ha creato questa calcolatrice e altre 25+ altre calcolatrici!

Verificato da Santhosh Yadav

Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Banglore

Santhosh Yadav ha verificato questa calcolatrice e altre 50+ altre calcolatrici!

< Ottimizzazione dei materiali VLSI Calcolatrici

Coefficiente di effetto corporeo

LaTeX Partire Coefficiente di effetto corporeo = modulus((Soglia di voltaggio-Tensione di soglia DIBL)/(sqrt(Potenziale di superficie+(Differenza di potenziale del corpo sorgente))-sqrt(Potenziale di superficie)))

Coefficiente DIBL

LaTeX Partire Coefficiente DIBL = (Tensione di soglia DIBL-Soglia di voltaggio)/Drenare al potenziale di origine

Channel Charge

LaTeX Partire Carica del canale = Capacità del cancello*(Voltaggio da gate a canale-Soglia di voltaggio)

Tensione critica

LaTeX Partire Tensione critica = Campo elettrico critico*Campo elettrico attraverso la lunghezza del canale

Vedi altro >>

Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo VLSI Formula

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Capacità dell'ossido dopo il ridimensionamento completo = Capacità di ossido per unità di area*Fattore di scala
C_oxide' = C_oxide*Sf

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