Angolo tra raggio incidente e piani di diffusione nella diffrazione di raggi X Soluzione

FASE 0: Riepilogo pre-calcolo
Formula utilizzata
Angolo in bianco e nero dei raggi X incidenti e riflessi = asin((Ordine di riflessione*Lunghezza d'onda dei raggi X)/(2*Spaziatura interplanare))
θ = asin((norder*λx-ray)/(2*d))
Questa formula utilizza 2 Funzioni, 4 Variabili
Funzioni utilizzate
sin - Il seno è una funzione trigonometrica che descrive il rapporto tra la lunghezza del lato opposto di un triangolo rettangolo e la lunghezza dell'ipotenusa., sin(Angle)
asin - La funzione seno inverso è una funzione trigonometrica che calcola il rapporto tra due lati di un triangolo rettangolo e restituisce l'angolo opposto al lato con il rapporto specificato., asin(Number)
Variabili utilizzate
Angolo in bianco e nero dei raggi X incidenti e riflessi - (Misurato in Radiante) - L'angolo in bianco e nero dei raggi X incidenti e riflessi è l'angolo tra il raggio di raggi X incidente e il raggio di raggi X riflesso, che è fondamentale per comprendere l'interazione tra i raggi X e i materiali.
Ordine di riflessione - L'ordine di riflessione è il numero di volte in cui un fotone viene riflesso da una superficie, il che influenza l'intensità e la direzione del raggio risultante.
Lunghezza d'onda dei raggi X - (Misurato in metro) - La lunghezza d'onda dei raggi X è la distanza tra due picchi o valli consecutivi di un'onda luminosa caratteristica dei fotoni dei raggi X.
Spaziatura interplanare - (Misurato in metro) - La spaziatura interplanare è la distanza tra due piani adiacenti in una struttura a reticolo cristallino, che è un parametro critico per comprendere le proprietà e il comportamento del materiale.
PASSAGGIO 1: conversione degli ingressi in unità di base
Ordine di riflessione: 2 --> Nessuna conversione richiesta
Lunghezza d'onda dei raggi X: 0.45 Nanometro --> 4.5E-10 metro (Controlla la conversione ​qui)
Spaziatura interplanare: 0.7 Nanometro --> 7E-10 metro (Controlla la conversione ​qui)
FASE 2: valutare la formula
Sostituzione dei valori di input nella formula
θ = asin((norderx-ray)/(2*d)) --> asin((2*4.5E-10)/(2*7E-10))
Valutare ... ...
θ = 0.69822247336256
PASSAGGIO 3: conversione del risultato nell'unità di output
0.69822247336256 Radiante -->40.0052008848678 Grado (Controlla la conversione ​qui)
RISPOSTA FINALE
40.0052008848678 40.0052 Grado <-- Angolo in bianco e nero dei raggi X incidenti e riflessi
(Calcolo completato in 00.020 secondi)

Titoli di coda

Creator Image
Creato da Anshika Arya
Istituto nazionale di tecnologia (NIT), Hamirpur
Anshika Arya ha creato questa calcolatrice e altre 2000+ altre calcolatrici!
Verifier Image
Verificato da Rushi Shah
KJ Somaiya College of Engineering (KJ Somaiya), Mumbai
Rushi Shah ha verificato questa calcolatrice e altre 200+ altre calcolatrici!

Struttura atomica Calcolatrici

Quantizzazione del momento angolare
​ LaTeX ​ Partire Quantizzazione del momento angolare = (Numero quantico*Costante di Plancks)/(2*pi)
Energia nell'orbita di Bohr all'ennesima potenza
​ LaTeX ​ Partire Energia nell'ennesima Unità di Bohr = -(13.6*(Numero atomico^2))/(Numero di livelli in orbita^2)
Energia fotonica nella transizione di stato
​ LaTeX ​ Partire Energia fotonica nella transizione di stato = Costante di Plancks*Frequenza del fotone
Raggio dell'ennesima orbita di Bohr
​ LaTeX ​ Partire Raggio dell'ennesima orbita = (Numero quantico^2*0.529*10^(-10))/Numero atomico

Angolo tra raggio incidente e piani di diffusione nella diffrazione di raggi X Formula

​LaTeX ​Partire
Angolo in bianco e nero dei raggi X incidenti e riflessi = asin((Ordine di riflessione*Lunghezza d'onda dei raggi X)/(2*Spaziatura interplanare))
θ = asin((norder*λx-ray)/(2*d))

Qual è la legge di Bragg della diffrazione dei raggi X?

La legge di Bragg sulla diffrazione dei raggi X afferma che la condizione per l'interferenza costruttiva dei raggi X diffusi dai piani cristallini è data dall'equazione che mette in relazione l'angolo di incidenza, la lunghezza d'onda dei raggi X e la distanza tra i piani cristallini. È fondamentale per determinare la struttura cristallina attraverso esperimenti di diffrazione dei raggi X.

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