✖L'espacement interplanaire est la distance entre deux plans adjacents dans une structure de réseau cristallin, qui constitue un paramètre essentiel pour comprendre les propriétés et le comportement du matériau.ⓘ Espacement interplanaire [d]			+10% -10%
✖L'angle b/w des rayons X incidents et réfléchis est l'angle entre le faisceau de rayons X incident et le faisceau de rayons X réfléchi, qui est crucial pour comprendre l'interaction entre les rayons X et les matériaux.ⓘ Angle n/b incident et rayons X réfléchis [θ]			+10% -10%
✖L'ordre de réflexion est le nombre de fois qu'un photon est réfléchi par une surface, ce qui affecte l'intensité et la direction du faisceau résultant.ⓘ Ordre de réflexion [n_order]			+10% -10%

✖La longueur d’onde des rayons X est la distance entre deux pics ou creux consécutifs d’une onde lumineuse caractéristique des photons des rayons X.ⓘ Longueur d'onde dans la diffraction des rayons X [λ_x-ray]

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Formule

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Longueur d'onde dans la diffraction des rayons X

Formule

`"λ"_{"x-ray"} = (2*"d"*sin("θ"))/"n"_{"order"}`

Exemple

`"0.449951nm"=(2*"0.7nm"*sin("40°"))/"2"`

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Longueur d'onde dans la diffraction des rayons X Solution

ÉTAPE 0: Résumé du pré-calcul

Formule utilisée

Longueur d'onde des rayons X = (2*Espacement interplanaire*sin(Angle n/b incident et rayons X réfléchis))/Ordre de réflexion
λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order
Cette formule utilise 1 Les fonctions, 4 Variables

Fonctions utilisées

sin - Le sinus est une fonction trigonométrique qui décrit le rapport entre la longueur du côté opposé d'un triangle rectangle et la longueur de l'hypoténuse., sin(Angle)

Variables utilisées

Longueur d'onde des rayons X - (Mesuré en Mètre) - La longueur d’onde des rayons X est la distance entre deux pics ou creux consécutifs d’une onde lumineuse caractéristique des photons des rayons X.
Espacement interplanaire - (Mesuré en Mètre) - L'espacement interplanaire est la distance entre deux plans adjacents dans une structure de réseau cristallin, qui constitue un paramètre essentiel pour comprendre les propriétés et le comportement du matériau.
Angle n/b incident et rayons X réfléchis - (Mesuré en Radian) - L'angle b/w des rayons X incidents et réfléchis est l'angle entre le faisceau de rayons X incident et le faisceau de rayons X réfléchi, qui est crucial pour comprendre l'interaction entre les rayons X et les matériaux.
Ordre de réflexion - L'ordre de réflexion est le nombre de fois qu'un photon est réfléchi par une surface, ce qui affecte l'intensité et la direction du faisceau résultant.

ÉTAPE 1: Convertir les entrées en unité de base

Espacement interplanaire: 0.7 Nanomètre --> 7E-10 Mètre (Vérifiez la conversion ici)
Angle n/b incident et rayons X réfléchis: 40 Degré --> 0.698131700797601 Radian (Vérifiez la conversion ici)
Ordre de réflexion: 2 --> Aucune conversion requise

ÉTAPE 2: Évaluer la formule

Remplacement des valeurs d'entrée dans la formule

λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order --> (2*7E-10*sin(0.698131700797601))/2

Évaluer ... ...

λ_x-ray = 4.49951326780507E-10

ÉTAPE 3: Convertir le résultat en unité de sortie

4.49951326780507E-10 Mètre -->0.449951326780507 Nanomètre (Vérifiez la conversion ici)

RÉPONSE FINALE

0.449951326780507 ≈ 0.449951 Nanomètre <-- Longueur d'onde des rayons X

(Calcul effectué en 00.004 secondes)

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Crédits

Créé par Anshika Arya

Institut national de technologie (LENTE), Hamirpur

Anshika Arya a créé cette calculatrice et 2000+ autres calculatrices!

Vérifié par Rushi Shah

Collège d'ingénierie KJ Somaiya (KJ Somaiya), Bombay

Rushi Shah a validé cette calculatrice et 200+ autres calculatrices!

< 10+ Structure atomique Calculatrices

Angle entre le rayon incident et les plans de diffusion dans la diffraction des rayons X

Aller Angle n/b incident et rayons X réfléchis = asin((Ordre de réflexion*Longueur d'onde des rayons X)/(2*Espacement interplanaire))

Espacement entre les plans du réseau atomique dans la diffraction des rayons X

Aller Espacement interplanaire = (Ordre de réflexion*Longueur d'onde des rayons X)/(2*sin(Angle n/b incident et rayons X réfléchis))

Longueur d'onde dans la diffraction des rayons X

Aller Longueur d'onde des rayons X = (2*Espacement interplanaire*sin(Angle n/b incident et rayons X réfléchis))/Ordre de réflexion

Longueur d'onde du rayonnement émis pour la transition entre les états

Aller Longueur d'onde = 1/([Rydberg]*Numéro atomique^2*(1/État énergétique n1^2-1/État énergétique n2^2))

Quantification du moment angulaire

Aller Quantification du moment angulaire = (Nombre quantique*Constante de Planck)/(2*pi)

Énergie dans l'orbite de Nth Bohr

Aller Énergie dans la nième unité de Bohr = -(13.6*(Numéro atomique^2))/(Nombre de niveaux en orbite^2)

Loi de Moseley

Aller Loi Moseley = Constante A*(Numéro atomique-Constante B)

Énergie photonique en transition d'état

Aller L’énergie photonique en transition d’État = Constante de Planck*Fréquence du photon

Longueur d'onde minimale dans le spectre des rayons X

Aller Longueur d'onde minimale = Constante de Planck*3*10^8/(1.60217662*10^-19*Tension)

Rayon de l'orbite de Nth Bohr

Aller Rayon de la nième orbite = (Nombre quantique^2*0.529*10^(-10))/Numéro atomique

Longueur d'onde dans la diffraction des rayons X Formule

Longueur d'onde des rayons X = (2*Espacement interplanaire*sin(Angle n/b incident et rayons X réfléchis))/Ordre de réflexion
λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order

Qu'est-ce que la diffraction des rayons X ?

La diffraction des rayons X est une technique utilisée pour étudier la structure des matériaux cristallins en dirigeant des rayons X sur un échantillon. Lorsque les rayons X interagissent avec le réseau cristallin, ils sont diffusés dans des directions spécifiques, produisant un diagramme de diffraction. Ce modèle fournit des informations sur la disposition des atomes dans le cristal, permettant aux chercheurs de déterminer la structure du matériau, d'identifier les phases et d'analyser les configurations moléculaires. La diffraction des rayons X est largement utilisée en science des matériaux, en chimie et en biologie.

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