Efficacité d’injection de l’émetteur compte tenu des constantes de dopage Solution

ÉTAPE 0: Résumé du pré-calcul
Formule utilisée
Efficacité d'injection de l'émetteur = Dopage côté N/(Dopage côté N+Dopage côté P)
γ = Ndn/(Ndn+Ndp)
Cette formule utilise 3 Variables
Variables utilisées
Efficacité d'injection de l'émetteur - L'efficacité d'injection de l'émetteur est le rapport entre le courant électronique circulant dans l'émetteur et le courant total à travers la jonction de base de l'émetteur.
Dopage côté N - (Mesuré en 1 par mètre cube) - Le dopage côté N fait référence au processus d'introduction de types spécifiques d'impuretés dans la région semi-conductrice de type N d'un dispositif semi-conducteur.
Dopage côté P - (Mesuré en 1 par mètre cube) - Le dopage côté P fait référence au processus d'introduction de types spécifiques d'impuretés dans la région semi-conductrice de type P d'un dispositif semi-conducteur.
ÉTAPE 1: Convertir les entrées en unité de base
Dopage côté N: 4.8 1 par centimètre cube --> 4800000 1 par mètre cube (Vérifiez la conversion ​ici)
Dopage côté P: 1.8 1 par centimètre cube --> 1800000 1 par mètre cube (Vérifiez la conversion ​ici)
ÉTAPE 2: Évaluer la formule
Remplacement des valeurs d'entrée dans la formule
γ = Ndn/(Ndn+Ndp) --> 4800000/(4800000+1800000)
Évaluer ... ...
γ = 0.727272727272727
ÉTAPE 3: Convertir le résultat en unité de sortie
0.727272727272727 --> Aucune conversion requise
RÉPONSE FINALE
0.727272727272727 0.727273 <-- Efficacité d'injection de l'émetteur
(Calcul effectué en 00.020 secondes)

Crédits

Creator Image
Créé par banuprakash
Collège d'ingénierie Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore
banuprakash a créé cette calculatrice et 50+ autres calculatrices!
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Vérifié par Santhosh Yadav
Collège d'ingénierie Dayananda Sagar (DSCE), Banglore
Santhosh Yadav a validé cette calculatrice et 50+ autres calculatrices!

Fabrication de circuits intégrés bipolaires Calculatrices

Conductivité de type N
​ LaTeX ​ Aller Conductivité Ohmique = Charge*(Mobilité du silicium dopé électroniquement*Concentration d'équilibre de type N+Mobilité du silicium dopé par trous*(Concentration intrinsèque^2/Concentration d'équilibre de type N))
Conductivité ohmique des impuretés
​ LaTeX ​ Aller Conductivité Ohmique = Charge*(Mobilité du silicium dopé électroniquement*Concentration d'électrons+Mobilité du silicium dopé par trous*Concentration des trous)
Impureté à concentration intrinsèque
​ LaTeX ​ Aller Concentration intrinsèque = sqrt((Concentration d'électrons*Concentration des trous)/Impureté de température)
Tension de rupture de l'émetteur collecteur
​ LaTeX ​ Aller Tension de rupture du collecteur et de l'émetteur = Tension de rupture de la base du collecteur/(Gain actuel du BJT)^(1/Numéro racine)

Efficacité d’injection de l’émetteur compte tenu des constantes de dopage Formule

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Efficacité d'injection de l'émetteur = Dopage côté N/(Dopage côté N+Dopage côté P)
γ = Ndn/(Ndn+Ndp)
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