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Configuración diferencial
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✖
La densidad de dopaje de las paredes laterales se refiere a la concentración de átomos dopantes a lo largo de las paredes laterales de la estructura del transistor.
ⓘ
Densidad de dopaje en los flancos [N
A(sw)
]
Electrones por centímetro cúbico
Electrones por metro cúbico
+10%
-10%
✖
La concentración de dopaje del donante se refiere a la concentración de átomos donadores agregados intencionalmente a un material semiconductor.
ⓘ
Concentración de dopaje del donante [N
D
]
Electrones por centímetro cúbico
Electrones por metro cúbico
+10%
-10%
✖
El potencial incorporado de las uniones de paredes laterales se refiere a la unión formada a lo largo de las superficies verticales o de las paredes laterales de la estructura del transistor.
ⓘ
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales [Φ
osw
]
Kilovoltio
Megavoltio
Microvoltio
milivoltio
nanovoltios
Voltaje de Planck
Voltio
+10%
-10%
✖
El potencial de unión de pared lateral de polarización cero es el potencial incorporado en la unión de pared lateral de ciertas estructuras de transistores.
ⓘ
Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero [C
j0sw
]
Faradio
Femtofaradio
kilofaradio
Microfaradio
milifaradio
Nanofaradio
Picofaradio
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Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero Solución
PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero
=
sqrt
((
[Permitivity-silicon]
*
[Charge-e]
)/2*((
Densidad de dopaje en los flancos
*
Concentración de dopaje del donante
)/(
Densidad de dopaje en los flancos
+
Concentración de dopaje del donante
))*1/
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales
)
C
j0sw
=
sqrt
((
[Permitivity-silicon]
*
[Charge-e]
)/2*((
N
A(sw)
*
N
D
)/(
N
A(sw)
+
N
D
))*1/
Φ
osw
)
Esta fórmula usa
2
Constantes
,
1
Funciones
,
4
Variables
Constantes utilizadas
[Permitivity-silicon]
- Permitividad del silicio Valor tomado como 11.7
[Charge-e]
- carga de electrones Valor tomado como 1.60217662E-19
Funciones utilizadas
sqrt
- Una función de raíz cuadrada es una función que toma un número no negativo como entrada y devuelve la raíz cuadrada del número de entrada dado., sqrt(Number)
Variables utilizadas
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero
-
(Medido en Faradio)
- El potencial de unión de pared lateral de polarización cero es el potencial incorporado en la unión de pared lateral de ciertas estructuras de transistores.
Densidad de dopaje en los flancos
-
(Medido en Electrones por metro cúbico)
- La densidad de dopaje de las paredes laterales se refiere a la concentración de átomos dopantes a lo largo de las paredes laterales de la estructura del transistor.
Concentración de dopaje del donante
-
(Medido en Electrones por metro cúbico)
- La concentración de dopaje del donante se refiere a la concentración de átomos donadores agregados intencionalmente a un material semiconductor.
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales
-
(Medido en Voltio)
- El potencial incorporado de las uniones de paredes laterales se refiere a la unión formada a lo largo de las superficies verticales o de las paredes laterales de la estructura del transistor.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Densidad de dopaje en los flancos:
0.35 Electrones por metro cúbico --> 0.35 Electrones por metro cúbico No se requiere conversión
Concentración de dopaje del donante:
3.01 Electrones por centímetro cúbico --> 3010000 Electrones por metro cúbico
(Verifique la conversión
aquí
)
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales:
3.2E-05 Voltio --> 3.2E-05 Voltio No se requiere conversión
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
C
j0sw
= sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((N
A(sw)
*N
D
)/(N
A(sw)
+N
D
))*1/Φ
osw
) -->
sqrt
((
[Permitivity-silicon]
*
[Charge-e]
)/2*((0.35*3010000)/(0.35+3010000))*1/3.2E-05)
Evaluar ... ...
C
j0sw
= 1.01249324812588E-07
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
1.01249324812588E-07 Faradio --> No se requiere conversión
RESPUESTA FINAL
1.01249324812588E-07
≈
1E-7 Faradio
<--
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero
(Cálculo completado en 00.020 segundos)
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Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero
Créditos
Creado por
banuprakash
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar
(DSCE)
,
Bangalore
¡banuprakash ha creado esta calculadora y 50+ más calculadoras!
Verificada por
Dipanjona Mallick
Instituto Tecnológico del Patrimonio
(hitk)
,
Calcuta
¡Dipanjona Mallick ha verificado esta calculadora y 50+ más calculadoras!
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Amplificadores MOSFET Calculadoras
Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero
LaTeX
Vamos
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero
=
sqrt
((
[Permitivity-silicon]
*
[Charge-e]
)/2*((
Densidad de dopaje en los flancos
*
Concentración de dopaje del donante
)/(
Densidad de dopaje en los flancos
+
Concentración de dopaje del donante
))*1/
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales
)
Capacitancia de unión de polarización cero
LaTeX
Vamos
Capacitancia de unión de polarización cero
=
sqrt
((
Permitividad del silicio
*
[Charge-e]
)/2*((
Concentración de dopaje del aceptor
*
Concentración de dopaje del donante
)/(
Concentración de dopaje del aceptor
+
Concentración de dopaje del donante
))*1/
Potencial de unión incorporado
)
Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero Fórmula
LaTeX
Vamos
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero
=
sqrt
((
[Permitivity-silicon]
*
[Charge-e]
)/2*((
Densidad de dopaje en los flancos
*
Concentración de dopaje del donante
)/(
Densidad de dopaje en los flancos
+
Concentración de dopaje del donante
))*1/
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales
)
C
j0sw
=
sqrt
((
[Permitivity-silicon]
*
[Charge-e]
)/2*((
N
A(sw)
*
N
D
)/(
N
A(sw)
+
N
D
))*1/
Φ
osw
)
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