Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((Densidad de dopaje en los flancos*Concentración de dopaje del donante)/(Densidad de dopaje en los flancos+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial incorporado de uniones de paredes laterales)
Cj0sw = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((NA(sw)*ND)/(NA(sw)+ND))*1/Φosw)
Esta fórmula usa 2 Constantes, 1 Funciones, 4 Variables
Constantes utilizadas
[Permitivity-silicon] - Permitividad del silicio Valor tomado como 11.7
[Charge-e] - carga de electrones Valor tomado como 1.60217662E-19
Funciones utilizadas
sqrt - Una función de raíz cuadrada es una función que toma un número no negativo como entrada y devuelve la raíz cuadrada del número de entrada dado., sqrt(Number)
Variables utilizadas
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero - (Medido en Faradio) - El potencial de unión de pared lateral de polarización cero es el potencial incorporado en la unión de pared lateral de ciertas estructuras de transistores.
Densidad de dopaje en los flancos - (Medido en Electrones por metro cúbico) - La densidad de dopaje de las paredes laterales se refiere a la concentración de átomos dopantes a lo largo de las paredes laterales de la estructura del transistor.
Concentración de dopaje del donante - (Medido en Electrones por metro cúbico) - La concentración de dopaje del donante se refiere a la concentración de átomos donadores agregados intencionalmente a un material semiconductor.
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales - (Medido en Voltio) - El potencial incorporado de las uniones de paredes laterales se refiere a la unión formada a lo largo de las superficies verticales o de las paredes laterales de la estructura del transistor.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Densidad de dopaje en los flancos: 0.35 Electrones por metro cúbico --> 0.35 Electrones por metro cúbico No se requiere conversión
Concentración de dopaje del donante: 3.01 Electrones por centímetro cúbico --> 3010000 Electrones por metro cúbico (Verifique la conversión ​aquí)
Potencial incorporado de uniones de paredes laterales: 3.2E-05 Voltio --> 3.2E-05 Voltio No se requiere conversión
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
Cj0sw = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((NA(sw)*ND)/(NA(sw)+ND))*1/Φosw) --> sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((0.35*3010000)/(0.35+3010000))*1/3.2E-05)
Evaluar ... ...
Cj0sw = 1.01249324812588E-07
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
1.01249324812588E-07 Faradio --> No se requiere conversión
RESPUESTA FINAL
1.01249324812588E-07 1E-7 Faradio <-- Potencial de unión de pared lateral de polarización cero
(Cálculo completado en 00.004 segundos)

Créditos

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Creado por banuprakash
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore
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Verifier Image
Verificada por Dipanjona Mallick
Instituto Tecnológico del Patrimonio (hitk), Calcuta
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Amplificadores MOSFET Calculadoras

Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero
​ LaTeX ​ Vamos Potencial de unión de pared lateral de polarización cero = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((Densidad de dopaje en los flancos*Concentración de dopaje del donante)/(Densidad de dopaje en los flancos+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial incorporado de uniones de paredes laterales)
Capacitancia de unión de polarización cero
​ LaTeX ​ Vamos Capacitancia de unión de polarización cero = sqrt((Permitividad del silicio*[Charge-e])/2*((Concentración de dopaje del aceptor*Concentración de dopaje del donante)/(Concentración de dopaje del aceptor+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial de unión incorporado)

Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero Fórmula

​LaTeX ​Vamos
Potencial de unión de pared lateral de polarización cero = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((Densidad de dopaje en los flancos*Concentración de dopaje del donante)/(Densidad de dopaje en los flancos+Concentración de dopaje del donante))*1/Potencial incorporado de uniones de paredes laterales)
Cj0sw = sqrt(([Permitivity-silicon]*[Charge-e])/2*((NA(sw)*ND)/(NA(sw)+ND))*1/Φosw)
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