MCD de tres números

Calculadora Longitud de onda en difracción de rayos X

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✖El espaciado interplanar es la distancia entre dos planos adyacentes en una estructura de red cristalina, que es un parámetro crítico para comprender las propiedades y el comportamiento del material.ⓘ Espaciado interplanar [d]			+10% -10%
✖El ángulo b/n de rayos X incidentes y reflejados es el ángulo entre el haz de rayos X incidente y el haz de rayos X reflejado, que es crucial para comprender la interacción entre los rayos X y los materiales.ⓘ Ángulo b/n Rayos X incidentes y reflejados [θ]			+10% -10%
✖El orden de reflexión es el número de veces que un fotón es reflejado por una superficie, lo que afecta la intensidad y dirección del haz resultante.ⓘ Orden de reflexión [n_order]			+10% -10%

✖La longitud de onda de los rayos X es la distancia entre dos picos o valles consecutivos de una onda de luz que es característica de los fotones de rayos X.ⓘ Longitud de onda en difracción de rayos X [λ_x-ray]

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Longitud de onda en difracción de rayos X Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo

Fórmula utilizada

Longitud de onda de los rayos X = (2*Espaciado interplanar*sin(Ángulo b/n Rayos X incidentes y reflejados))/Orden de reflexión
λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order
Esta fórmula usa 1 Funciones, 4 Variables

Funciones utilizadas

sin - El seno es una función trigonométrica que describe la relación entre la longitud del lado opuesto de un triángulo rectángulo y la longitud de la hipotenusa., sin(Angle)

Variables utilizadas

Longitud de onda de los rayos X - (Medido en Metro) - La longitud de onda de los rayos X es la distancia entre dos picos o valles consecutivos de una onda de luz que es característica de los fotones de rayos X.
Espaciado interplanar - (Medido en Metro) - El espaciado interplanar es la distancia entre dos planos adyacentes en una estructura de red cristalina, que es un parámetro crítico para comprender las propiedades y el comportamiento del material.
Ángulo b/n Rayos X incidentes y reflejados - (Medido en Radián) - El ángulo b/n de rayos X incidentes y reflejados es el ángulo entre el haz de rayos X incidente y el haz de rayos X reflejado, que es crucial para comprender la interacción entre los rayos X y los materiales.
Orden de reflexión - El orden de reflexión es el número de veces que un fotón es reflejado por una superficie, lo que afecta la intensidad y dirección del haz resultante.

PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base

Espaciado interplanar: 0.7 nanómetro --> 7E-10 Metro (Verifique la conversión aquí)
Ángulo b/n Rayos X incidentes y reflejados: 40 Grado --> 0.698131700797601 Radián (Verifique la conversión aquí)
Orden de reflexión: 2 --> No se requiere conversión

PASO 2: Evaluar la fórmula

Sustituir valores de entrada en una fórmula

λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order --> (2*7E-10*sin(0.698131700797601))/2

Evaluar ... ...

λ_x-ray = 4.49951326780507E-10

PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida

4.49951326780507E-10 Metro -->0.449951326780507 nanómetro (Verifique la conversión aquí)

RESPUESTA FINAL

0.449951326780507 ≈ 0.449951 nanómetro <-- Longitud de onda de los rayos X

(Cálculo completado en 00.004 segundos)

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Créditos

Creado por Anshika Arya

Instituto Nacional de Tecnología (LIENDRE), Hamirpur

¡Anshika Arya ha creado esta calculadora y 2000+ más calculadoras!

Verificada por Rushi Shah

Facultad de Ingeniería KJ Somaiya (KJ Somaiya), Mumbai

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Energía en la órbita de Nth Bohr

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Radio de la órbita de Nth Bohr

LaTeX Vamos Radio de la enésima órbita = (Número cuántico^2*0.529*10^(-10))/Número atómico

Longitud de onda en difracción de rayos X Fórmula

LaTeX Vamos

Longitud de onda de los rayos X = (2*Espaciado interplanar*sin(Ángulo b/n Rayos X incidentes y reflejados))/Orden de reflexión
λ_x-ray = (2*d*sin(θ))/n_order

¿Qué es la difracción de rayos X?

La difracción de rayos X es una técnica utilizada para estudiar la estructura de materiales cristalinos dirigiendo rayos X a una muestra. Cuando los rayos X interactúan con la red cristalina, se dispersan en direcciones específicas, produciendo un patrón de difracción. Este patrón proporciona información sobre la disposición de los átomos dentro del cristal, lo que permite a los investigadores determinar la estructura del material, identificar fases y analizar configuraciones moleculares. La difracción de rayos X se utiliza ampliamente en ciencia de materiales, química y biología.

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