Profundidad de la región de agotamiento asociada con el drenaje Solución

PASO 0: Resumen del cálculo previo
Fórmula utilizada
Región de profundidad de agotamiento del drenaje = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Potencial de unión incorporado+Voltaje de la fuente de drenaje))/([Charge-e]*Concentración de dopaje del aceptor))
xdD = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Φo+VDS))/([Charge-e]*NA))
Esta fórmula usa 2 Constantes, 1 Funciones, 4 Variables
Constantes utilizadas
[Permitivity-silicon] - Permitividad del silicio Valor tomado como 11.7
[Charge-e] - carga de electrones Valor tomado como 1.60217662E-19
Funciones utilizadas
sqrt - Una función de raíz cuadrada es una función que toma un número no negativo como entrada y devuelve la raíz cuadrada del número de entrada dado., sqrt(Number)
Variables utilizadas
Región de profundidad de agotamiento del drenaje - (Medido en Metro) - La región de profundidad de agotamiento del drenaje es la región de agotamiento que se forma cerca del terminal de drenaje cuando se aplica un voltaje al terminal de la compuerta.
Potencial de unión incorporado - (Medido en Voltio) - El potencial de unión incorporado se refiere a la diferencia de potencial o voltaje que existe a través de una unión semiconductora cuando no está conectada a una fuente de voltaje externa.
Voltaje de la fuente de drenaje - (Medido en Voltio) - El voltaje de la fuente de drenaje es el voltaje aplicado entre el terminal de fuente y drenaje.
Concentración de dopaje del aceptor - (Medido en Electrones por metro cúbico) - La concentración de dopaje del aceptor se refiere a la concentración de átomos aceptores agregados intencionalmente a un material semiconductor.
PASO 1: Convierta la (s) entrada (s) a la unidad base
Potencial de unión incorporado: 2 Voltio --> 2 Voltio No se requiere conversión
Voltaje de la fuente de drenaje: 45 Voltio --> 45 Voltio No se requiere conversión
Concentración de dopaje del aceptor: 1.32 Electrones por centímetro cúbico --> 1320000 Electrones por metro cúbico (Verifique la conversión ​aquí)
PASO 2: Evaluar la fórmula
Sustituir valores de entrada en una fórmula
xdD = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Φo+VDS))/([Charge-e]*NA)) --> sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(2+45))/([Charge-e]*1320000))
Evaluar ... ...
xdD = 72113188.282716
PASO 3: Convierta el resultado a la unidad de salida
72113188.282716 Metro --> No se requiere conversión
RESPUESTA FINAL
72113188.282716 7.2E+7 Metro <-- Región de profundidad de agotamiento del drenaje
(Cálculo completado en 00.008 segundos)

Créditos

Creator Image
Creado por banuprakash
Facultad de Ingeniería Dayananda Sagar (DSCE), Bangalore
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Verifier Image
Verificada por Dipanjona Mallick
Instituto Tecnológico del Patrimonio (hitk), Calcuta
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Transistor MOS Calculadoras

Factor de equivalencia de voltaje de pared lateral
​ LaTeX ​ Vamos Factor de equivalencia de voltaje de pared lateral = -(2*sqrt(Potencial incorporado de uniones de paredes laterales)/(Voltaje final-Voltaje inicial)*(sqrt(Potencial incorporado de uniones de paredes laterales-Voltaje final)-sqrt(Potencial incorporado de uniones de paredes laterales-Voltaje inicial)))
Potencial de Fermi para el tipo P
​ LaTeX ​ Vamos Potencial de Fermi para el tipo P = ([BoltZ]*Temperatura absoluta)/[Charge-e]*ln(Concentración de portador intrínseco/Concentración de dopaje del aceptor)
Capacitancia equivalente de unión de señal grande
​ LaTeX ​ Vamos Capacitancia equivalente de unión de señal grande = Perímetro de la pared lateral*Capacitancia de unión de pared lateral*Factor de equivalencia de voltaje de pared lateral
Capacitancia de unión de pared lateral de polarización cero por unidad de longitud
​ LaTeX ​ Vamos Capacitancia de unión de pared lateral = Potencial de unión de pared lateral de polarización cero*Profundidad de la pared lateral

Profundidad de la región de agotamiento asociada con el drenaje Fórmula

​LaTeX ​Vamos
Región de profundidad de agotamiento del drenaje = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Potencial de unión incorporado+Voltaje de la fuente de drenaje))/([Charge-e]*Concentración de dopaje del aceptor))
xdD = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*(Φo+VDS))/([Charge-e]*NA))
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