Maximale Erschöpfungstiefe Lösung

SCHRITT 0: Zusammenfassung vor der Berechnung
Gebrauchte Formel
Maximale Erschöpfungstiefe = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Bulk-Fermi-Potenzial))/([Charge-e]*Dopingkonzentration des Akzeptors))
xdm = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Φf))/([Charge-e]*NA))
Diese formel verwendet 2 Konstanten, 2 Funktionen, 3 Variablen
Verwendete Konstanten
[Permitivity-silicon] - Permittivität von Silizium Wert genommen als 11.7
[Charge-e] - Ladung eines Elektrons Wert genommen als 1.60217662E-19
Verwendete Funktionen
sqrt - Eine Quadratwurzelfunktion ist eine Funktion, die eine nicht negative Zahl als Eingabe verwendet und die Quadratwurzel der gegebenen Eingabezahl zurückgibt., sqrt(Number)
modulus - Der Modul einer Zahl ist der Rest, wenn diese Zahl durch eine andere Zahl geteilt wird., modulus
Verwendete Variablen
Maximale Erschöpfungstiefe - (Gemessen in Meter) - Die maximale Verarmungstiefe bezieht sich auf das maximale Ausmaß, bis zu dem sich der Verarmungsbereich unter bestimmten Betriebsbedingungen in das Halbleitermaterial des Geräts hinein erstreckt.
Bulk-Fermi-Potenzial - (Gemessen in Volt) - Das Bulk-Fermi-Potenzial ist ein Parameter, der das elektrostatische Potential in der Masse (im Inneren) eines Halbleitermaterials beschreibt.
Dopingkonzentration des Akzeptors - (Gemessen in Elektronen pro Kubikmeter) - Die Dotierungskonzentration des Akzeptors bezieht sich auf die Konzentration der Akzeptoratome, die einem Halbleitermaterial absichtlich hinzugefügt werden.
SCHRITT 1: Konvertieren Sie die Eingänge in die Basiseinheit
Bulk-Fermi-Potenzial: 0.25 Volt --> 0.25 Volt Keine Konvertierung erforderlich
Dopingkonzentration des Akzeptors: 1.32 Elektronen pro Kubikzentimeter --> 1320000 Elektronen pro Kubikmeter (Überprüfen sie die konvertierung ​hier)
SCHRITT 2: Formel auswerten
Eingabewerte in Formel ersetzen
xdm = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Φf))/([Charge-e]*NA)) --> sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*0.25))/([Charge-e]*1320000))
Auswerten ... ...
xdm = 7437907.45302539
SCHRITT 3: Konvertieren Sie das Ergebnis in die Ausgabeeinheit
7437907.45302539 Meter --> Keine Konvertierung erforderlich
ENDGÜLTIGE ANTWORT
7437907.45302539 7.4E+6 Meter <-- Maximale Erschöpfungstiefe
(Berechnung in 00.020 sekunden abgeschlossen)

Credits

Creator Image
Erstellt von Banuprakash
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Bangalore
Banuprakash hat diesen Rechner und 50+ weitere Rechner erstellt!
Verifier Image
Geprüft von Dipanjona Mallick
Heritage Institute of Technology (HITK), Kalkutta
Dipanjona Mallick hat diesen Rechner und 50+ weitere Rechner verifiziert!

MOS-Transistor Taschenrechner

Äquivalenzfaktor der Seitenwandspannung
​ LaTeX ​ Gehen Äquivalenzfaktor der Seitenwandspannung = -(2*sqrt(Eingebautes Potenzial von Seitenwandverbindungen)/(Endspannung-Anfangsspannung)*(sqrt(Eingebautes Potenzial von Seitenwandverbindungen-Endspannung)-sqrt(Eingebautes Potenzial von Seitenwandverbindungen-Anfangsspannung)))
Fermipotential für P-Typ
​ LaTeX ​ Gehen Fermipotential für P-Typ = ([BoltZ]*Absolute Temperatur)/[Charge-e]*ln(Intrinsische Trägerkonzentration/Dopingkonzentration des Akzeptors)
Äquivalente Großsignal-Verbindungskapazität
​ LaTeX ​ Gehen Äquivalente Großsignal-Verbindungskapazität = Umfang der Seitenwand*Seitenwandübergangskapazität*Äquivalenzfaktor der Seitenwandspannung
Seitenwandübergangskapazität ohne Vorspannung pro Längeneinheit
​ LaTeX ​ Gehen Seitenwandübergangskapazität = Null-Bias-Seitenwandübergangspotential*Tiefe der Seitenwand

Maximale Erschöpfungstiefe Formel

​LaTeX ​Gehen
Maximale Erschöpfungstiefe = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Bulk-Fermi-Potenzial))/([Charge-e]*Dopingkonzentration des Akzeptors))
xdm = sqrt((2*[Permitivity-silicon]*modulus(2*Φf))/([Charge-e]*NA))
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