Ladungsdichte im Verarmungsbereich Lösung

SCHRITT 0: Zusammenfassung vor der Berechnung
Gebrauchte Formel
Dichte der Sperrschichtladung = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Dopingkonzentration des Akzeptors*modulus(Oberflächenpotential-Bulk-Fermi-Potenzial)))
Qd = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*NA*modulus(Φs-Φf)))
Diese formel verwendet 2 Konstanten, 2 Funktionen, 4 Variablen
Verwendete Konstanten
[Permitivity-silicon] - Permittivität von Silizium Wert genommen als 11.7
[Charge-e] - Ladung eines Elektrons Wert genommen als 1.60217662E-19
Verwendete Funktionen
sqrt - Eine Quadratwurzelfunktion ist eine Funktion, die eine nicht negative Zahl als Eingabe verwendet und die Quadratwurzel der gegebenen Eingabezahl zurückgibt., sqrt(Number)
modulus - Der Modul einer Zahl ist der Rest, wenn diese Zahl durch eine andere Zahl geteilt wird., modulus
Verwendete Variablen
Dichte der Sperrschichtladung - (Gemessen in Elektronen pro Kubikmeter) - Die Ladungsdichte der Verarmungsschicht ist die Menge dieser festen Ladungen pro Flächeneinheit innerhalb der Verarmungsregion.
Dopingkonzentration des Akzeptors - (Gemessen in Elektronen pro Kubikmeter) - Die Dotierungskonzentration des Akzeptors bezieht sich auf die Konzentration der Akzeptoratome, die einem Halbleitermaterial absichtlich hinzugefügt werden.
Oberflächenpotential - (Gemessen in Volt) - Oberflächenpotential ist das elektrische Potential an der Oberfläche des Halbleiters, insbesondere an der Grenzfläche zwischen Halbleiter und Isolator.
Bulk-Fermi-Potenzial - (Gemessen in Volt) - Das Bulk-Fermi-Potenzial ist ein Parameter, der das elektrostatische Potential in der Masse (im Inneren) eines Halbleitermaterials beschreibt.
SCHRITT 1: Konvertieren Sie die Eingänge in die Basiseinheit
Dopingkonzentration des Akzeptors: 1.32 Elektronen pro Kubikzentimeter --> 1320000 Elektronen pro Kubikmeter (Überprüfen sie die konvertierung ​hier)
Oberflächenpotential: 0.78 Volt --> 0.78 Volt Keine Konvertierung erforderlich
Bulk-Fermi-Potenzial: 0.25 Volt --> 0.25 Volt Keine Konvertierung erforderlich
SCHRITT 2: Formel auswerten
Eingabewerte in Formel ersetzen
Qd = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*NA*modulus(Φsf))) --> (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*1320000*modulus(0.78-0.25)))
Auswerten ... ...
Qd = 1.61952637096272E-06
SCHRITT 3: Konvertieren Sie das Ergebnis in die Ausgabeeinheit
1.61952637096272E-06 Elektronen pro Kubikmeter --> Keine Konvertierung erforderlich
ENDGÜLTIGE ANTWORT
1.61952637096272E-06 1.6E-6 Elektronen pro Kubikmeter <-- Dichte der Sperrschichtladung
(Berechnung in 00.020 sekunden abgeschlossen)

Credits

Creator Image
Erstellt von Banuprakash
Dayananda Sagar College of Engineering (DSCE), Bangalore
Banuprakash hat diesen Rechner und 50+ weitere Rechner erstellt!
Verifier Image
Geprüft von Dipanjona Mallick
Heritage Institute of Technology (HITK), Kalkutta
Dipanjona Mallick hat diesen Rechner und 50+ weitere Rechner verifiziert!

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Äquivalenzfaktor der Seitenwandspannung
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Seitenwandübergangskapazität ohne Vorspannung pro Längeneinheit
​ Gehen Seitenwandübergangskapazität = Null-Bias-Seitenwandübergangspotential*Tiefe der Seitenwand

Ladungsdichte im Verarmungsbereich Formel

Dichte der Sperrschichtladung = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*Dopingkonzentration des Akzeptors*modulus(Oberflächenpotential-Bulk-Fermi-Potenzial)))
Qd = (sqrt(2*[Charge-e]*[Permitivity-silicon]*NA*modulus(Φs-Φf)))
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