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Trägerlebensdauer Taschenrechner

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Energieband und Ladungsträger Elektronen und Löcher Halbleiterträger SSD-Verbindung

✖Die Proportionalität für die Rekombination wird durch das Symbol αr bezeichnet.ⓘ Verhältnismäßigkeit für Rekombination [α_r]			+10% -10%
✖Die Lochkonzentration im Valenzband bezieht sich auf die Menge oder Häufigkeit der im Valenzband eines Halbleitermaterials vorhandenen Löcher.ⓘ Lochkonzentration im Volantband [p₀]			+10% -10%
✖Die Elektronenkonzentration im Leitungsband bezieht sich auf die Menge oder Häufigkeit freier Elektronen, die für die Leitung im Leitungsband eines Halbleitermaterials zur Verfügung stehen.ⓘ Elektronenkonzentration im Leitungsband [n₀]			+10% -10%

✖Die Trägerlebensdauer ist definiert als die durchschnittliche Zeit, die ein Minderheitsträger für die Rekombination benötigt.ⓘ Trägerlebensdauer [T_a]

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Trägerlebensdauer Lösung

SCHRITT 0: Zusammenfassung vor der Berechnung

Gebrauchte Formel

Trägerlebensdauer = 1/(Verhältnismäßigkeit für Rekombination*(Lochkonzentration im Volantband+Elektronenkonzentration im Leitungsband))
T_a = 1/(α_r*(p₀+n₀))
Diese formel verwendet 4 Variablen

Verwendete Variablen

Trägerlebensdauer - (Gemessen in Zweite) - Die Trägerlebensdauer ist definiert als die durchschnittliche Zeit, die ein Minderheitsträger für die Rekombination benötigt.
Verhältnismäßigkeit für Rekombination - (Gemessen in Kubikmeter pro Sekunde) - Die Proportionalität für die Rekombination wird durch das Symbol αr bezeichnet.
Lochkonzentration im Volantband - (Gemessen in 1 pro Kubikmeter) - Die Lochkonzentration im Valenzband bezieht sich auf die Menge oder Häufigkeit der im Valenzband eines Halbleitermaterials vorhandenen Löcher.
Elektronenkonzentration im Leitungsband - (Gemessen in 1 pro Kubikmeter) - Die Elektronenkonzentration im Leitungsband bezieht sich auf die Menge oder Häufigkeit freier Elektronen, die für die Leitung im Leitungsband eines Halbleitermaterials zur Verfügung stehen.

SCHRITT 1: Konvertieren Sie die Eingänge in die Basiseinheit

Verhältnismäßigkeit für Rekombination: 1.2E-06 Kubikmeter pro Sekunde --> 1.2E-06 Kubikmeter pro Sekunde Keine Konvertierung erforderlich
Lochkonzentration im Volantband: 230000000000 1 pro Kubikmeter --> 230000000000 1 pro Kubikmeter Keine Konvertierung erforderlich
Elektronenkonzentration im Leitungsband: 14000000 1 pro Kubikmeter --> 14000000 1 pro Kubikmeter Keine Konvertierung erforderlich

SCHRITT 2: Formel auswerten

Eingabewerte in Formel ersetzen

T_a = 1/(α_r*(p₀+n₀)) --> 1/(1.2E-06*(230000000000+14000000))

Auswerten ... ...

T_a = 3.62296787731761E-06

SCHRITT 3: Konvertieren Sie das Ergebnis in die Ausgabeeinheit

3.62296787731761E-06 Zweite --> Keine Konvertierung erforderlich

ENDGÜLTIGE ANTWORT

3.62296787731761E-06 ≈ 3.6E-6 Zweite <-- Trägerlebensdauer

(Berechnung in 00.004 sekunden abgeschlossen)

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Credits

Erstellt von Shobhit Dimri

Bipin Tripathi Kumaon Institut für Technologie (BTKIT), Dwarahat

Shobhit Dimri hat diesen Rechner und 900+ weitere Rechner erstellt!

Geprüft von Urvi Rathod

Vishwakarma Government Engineering College (VGEC), Ahmedabad

Urvi Rathod hat diesen Rechner und 1900+ weitere Rechner verifiziert!

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Trägerlebensdauer Formel

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Trägerlebensdauer = 1/(Verhältnismäßigkeit für Rekombination*(Lochkonzentration im Volantband+Elektronenkonzentration im Leitungsband))
T_a = 1/(α_r*(p₀+n₀))

Wie misst man die Lebensdauer eines Trägers?

Herkömmlicherweise werden direkte elektrische Messungen der Lebensdauer von Minoritätsträgern unter Verwendung von Gleichstrom (DC)-Messungen des photoleitenden Zerfalls (PCD) durchgeführt, während nicht-invasive, berührungslose Lebensdauermessungen unter Verwendung von zeitaufgelöster Mikrowellenreflexion (TMR) oder zeitaufgelöst durchgeführt werden Photolumineszenz (TRPL).

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